激光粒度测试仪是一种性能优良的粒度分布仪，它采用进口的半导体激光器，功率大、寿命长、单色性好；采用专门设计的由大规模集成电路工艺制造的大尺寸高灵敏度光电探测器阵列；采用蠕动循环泵和微量样品池两种进样方式；采用全程米氏理论和多种分布模型的数据处理方式；采用高精度的数据传输与处理电路等一系列先进的技术和制造工艺，使该仪器具有准确可靠、测试速度快、重复性好、操作简便等突出特点，是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。

　　激光粒度测试仪是通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。

　　激光粒度测试仪对中调整方法：

　　对中调整是通过调整仪器正面，测试窗口下面的2个“对中旋钮”来改变“傅里叶透镜”的偏移位置，从而使得激光打在0号探测单元上。

　　调整对中旋钮，激光会相应发生偏移，因此我们需要随时观察“背景光能分布”窗口上光柱的运动情况。

　　调整对中旋钮，使得激光向0环方向偏移上旋钮向左偏移向上偏移向右偏移激光下旋钮调整“下旋钮”方法与“上旋钮”的一致。

　　当“下旋钮”调整激光接近0号探测单元，0环附近的1环2环都很高此时，说明激光已经接近0号探测单元。继续向逆时针方向旋转，如果发现光柱反而远离0环此时应略微回调。

　　向下偏移调整对中时，我们可以先调上旋钮，或者下旋钮。选择其中一个，并边调边观察“背景光能分布”窗口。

　　先调整“上旋钮”，逆时针方向旋转，如果发现光柱向左运动说明激光正向着0环位置偏移。调整到一定位置时，由于激光已经处于zui接近0号探测单元，如果继续调整，激光反而远离0号探测单元，光柱反而会向右运动或者光柱消失，调过头了。此时应该略微回调，让光柱恢复到之前zui接近0环的位置。